1. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI
پدیدآورنده : edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Design and construction -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Computer-aided design,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
A416
1992
2. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده : edited by R.E. Massara
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integratation - Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
3. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده : edited by R.E. Massara
کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز المعلومات (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
4. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Testing
5. Formal verification :
پدیدآورنده : Erik Seligman, Tom Schubert, M.V. Achutha Kiran Kumar
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Electronic circuits-- Testing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)
رده :
TK7867
6. Formal verification : an essential toolkit for modern VLSI design
پدیدآورنده : Seligman, Erik
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Testing ، Electronic circuits,Design and construction ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Verilog )Computer hardware description language(
رده :
TK
7867
.
S46F6
7. Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
پدیدآورنده : Mazumder, Pinaki., Pinaki Mazumder, Elizabeth M. Rudnick
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : ، Integrated circuits, Very large scale integration, Design and construction,، Integrated circuits, Very large scale integration, Testing,، Genetic algorithms,، Integrated circuit layout
رده :
TK
7874
.
75
.
M39G4
2007
8. Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
پدیدآورنده : Mazumder, Pinaki
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : Very large scale integration Testing ، Integrated circuits,، Genetic algorithms,Very large scale integration Design and construction ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
75
.
M39
9. Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
پدیدآورنده : Mazumder, Pinaki.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,، Genetic algorithms,، Integrated circuit layout
رده :
TK
7874
.
75
.
M39
2007
10. High-level test synthesis of digital VLSI circuits
پدیدآورنده : Lee, Mike Tien-Chien
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Computer-aided design,، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing
رده :
TK
7874
.
75
.
L44
1997
11. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده : Kunz, Wolfgang
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing
رده :
TK
7874
.
K866
1997
12. Self-testing VLSI design
پدیدآورنده : V.N. Yarmolik, I.V. Kachan
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Design
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
13. System-on-chip test architectures
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
14. System-on-chip test architectures :
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
15. System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده :
TK
7895
.
E42S97
16. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design
رده :
TK
7895
.
E42
.
S978
2008
17. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده : Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
18. Unified methods for VLSI simulation and test generation
پدیدآورنده : by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal
موضوع : Integrated circuits- Very large scale integration- Computer-aided design,Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
19. VLSI test principles and architectures :
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Conception et construction.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Essais.,Circuitos integrados vlsi.,COMPUTERS-- Logic Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.,Testen,VLSI
رده :
TK7874
.
75
.
V587
2006eb
